¥ 831
Kahng / 2011-02-09 / Springer Netherlands
¥ 1693
Haarla / 2011-02-01 / Springer London
¥ 1062
Glisson / 2011-01-28 / Springer Netherlands
¥ 1909
Adamski / 2011-01-27 / Springer Berlin Heidelberg
¥ 546
Gerhard Ziegler / 2011-01-26 / Wiley-VCH
¥ 1033
Rik de Doncker;Duco W.J. Pulle;Andre Veltman / 2011-01-19 / Springer Netherlands
¥ 1695
Li / 2011-01-16 / Springer Netherlands
¥ 1041
Sheetekela, Severus / 2011-01-16 / LAP Lambert Academic Publishing
¥ 1149
Yu / 2011-01-15 / Springer Netherlands
¥ 1909
Radulov / 2011-01-15 / Springer Netherlands
¥ 1492
Remus Teodorescu / 2011-01-14 / Wiley-IEEE Press
¥ 1768
Gustavsson, Mikael;Wikner, J. Jacob;Nianxiong Tan / 2011-01-05 / Springer US
¥ 884
Kabisatpathy, Prithviraj;Barua, Alok;Sinha, Satyabroto / 2011-01-05 / Springer US
¥ 2917
Wambacq, Piet;Sansen, Willy M. C. / 2011-01-05 / Springer US
¥ 1326
Dallet, Dominique;Machado Da Silva, Jose;Machado Da Silva, Jos / 2011-01-05 / Springer US
¥ 1372
Seung-Ki Sul / 2010-12-23 / Wiley-IEEE Press
¥ 3024
Antonio Luque / 2010-12-21 / Wiley
¥ 751
Doboli, Alex;Currie, Edward H. / 2010-12-21 / Springer New York
¥ 1036
Zainalabedin Navabi, Worcester Polytechnic Institute Dept. Electrical & Computer, Worcester, MA, USA / 2010-12-20 / Springer US
¥ 2566
Norman S. Nise / 2010-12-17 / Wiley
¥ 1504
Goetzberger, Adolf / 2010-12-16 / Springer Berlin Heidelberg
¥ 1326
Zrilic, Djuro G. / 2010-12-16 / Springer Berlin Heidelberg
¥ 1504
Sapatnekar, Sachin / 2010-12-15 / Springer US
¥ 1326
Goosey / 2010-12-15 / Springer Netherlands
¥ 1326
Brown, Richard / 2010-12-15 / Springer US
¥ 442
Cuniberti, Gianaurelio / 2010-12-15 / Springer Berlin Heidelberg
¥ 1326
Connelly, Michael J. / 2010-12-15 / Springer US
¥ 884
Bonfiglio, Annalisa;De Rossi, Danilo / 2010-12-15 / Springer US
¥ 884
Nystrom, Mika M.;Martin, Alain / 2010-12-15 / Springer US
¥ 884
Aronhime, Peter B.;Stephenson, F. W. / 2010-12-15 / Springer US
¥ 1326
Kuo, James B.;Ker-Wei Su / 2010-12-15 / Springer US
¥ 1768
Baron, Jean-Claude;Geffroy, J. C.;Motet, G. / 2010-12-15 / Springer US
¥ 1326
Steyaert, Michiel;van Roermund, Arthur H. M.;Huijsing, Johan H. / 2010-12-15 / Springer US
¥ 884
Bose / 2010-12-15 / Springer Netherlands
¥ 1326
Plassche, Rudy J. Van De;Huijsing, Johan H.;Sansen, Willy M. C. / 2010-12-15 / Springer US
¥ 1768
Sansen, Willy M. C.;Huijsing, Johan H.;Van de Plassche, Rudy J. / 2010-12-15 / Springer US
¥ 1326
Plassche, Rudy J. Van De;Huijsing, Johan H.;Sansen, Willy M. C. / 2010-12-15 / Springer US
¥ 1326
Nigel Sammes (Department of Mechanical Engineering, University of Connecticut, Storrs, CT, USA) / 2010-12-15 / Springer London
¥ 1326
Huijsing, Johan H.;Van de Plassche, Rudy J.;Sansen, Willy M. C. / 2010-12-15 / Springer US
¥ 1326
Hubner, Michael;Becker, Jurgen / 2010-12-15 / Springer New York
¥ 1326
Stiesch / 2010-12-15 / Springer Berlin Heidelberg
¥ 1326
Staunstrup, Jorgen;Wolf, Wayne;Staunstrup, J. Rgen / 2010-12-15 / Springer US
¥ 884
Mehrotra, Amit;Sangiovanni-Vincentelli, Alberto / 2010-12-15 / Springer US
¥ 1326
Lopez, Toni;Elferich, Reinhold;Alarcon, Eduard / 2010-12-15 / Springer New York
¥ 884
Grun, Peter;Dutt, Nikil D.;Nicolau, Alexandru / 2010-12-15 / Springer US
¥ 884
Zolfaghari, Alireza / 2010-12-15 / Springer US
1 55 56 57 58 59 60 92 跳转到