Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

工程热物理

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出  版 社
出版时间
2010年12月09日
装      帧
平装
ISBN
9781441953155
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页      码
180
语      种
英语
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图书简介

This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based s

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