Photo-induced Defects in Semiconductors(Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering)

半导体中的光致缺陷

凝聚态物理学

售   价:
468.00
发货周期:预计5-7周发货
作      者
出  版 社
出版时间
2006年03月01日
装      帧
平装
ISBN
9780521024457
复制
页      码
232
开      本
229×152×13mm
语      种
英文
综合评分
暂无评分
我 要 买
- +
库存 100 本
  • 图书详情
  • 目次
  • 买家须知
  • 书评(0)
  • 权威书评(0)
图书简介
This is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. These metastable defects exhibit complex interactions with the surrounding material, and can significantly affect the performance and stability of certain semiconductor devices.
本书暂无推荐
本书暂无推荐
看了又看
  • 上一个
  • 下一个