Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics

Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics（The Cambridge RF and Microwave Engineering Series）

射频纳米电子学测量技术
光电子学与激光技术

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发货周期：预计5-7周发货

作者

T. Mitch Wallis

出版社

Cambridge University Press

出版时间

2017年09月01日

装帧

精装

ＩＳＢＮ

9781107120686

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Understand the fundamentals of radio frequency measurement of nanoscale devices with this practical, cross-disciplinary guide. Featuring numerous examples linking theoretical concepts with real-world applications, it is the ideal resource for researchers in both academia and industry new to the field of radio frequency nanoelectronics.

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