Semiconductor Memories:Technology, Testing, and Reliability

半导体存储器:技术、测试和可靠性

计算机科学技术基础学科

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作      者
出  版 社
出版时间
2002年08月26日
装      帧
精装
ISBN
9780780310001
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页      码
480
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图书简介
Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.* Memory cell structures and fabrication technologies.* Application-specific memories and architectures.* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.* Memory stacks and multichip modules for gigabyte sto
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