Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry:A User’s Guide

光学

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作      者
出  版 社
出版时间
1999年03月04日
装      帧
精装
ISBN
9780471181729
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页      码
248
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图书简介
While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscop
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