Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology - Theory, Algorithms, and Applications
光学测量的边缘模式分析：理论、算法和应用程序
光学售 价：
￥
1195.00
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作 者
出 版 社
出版时间
2014年07月02日
装 帧
精装
页 码
344
语 种
英文
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图书简介
The book deals with phase demodulation typically encountered in Optical Metrology techniques such as interferometry, shadow moiré, fringe projection, photoelasticity, moiré interferometry, moiré deflectometry, holographic interferometry, shearing interfer
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